SI
meol

Analiza lomov in napak na izdelku je pomembna disciplina v proizvodni dejavnosti in se uporablja pri razvoju novih produktov in pri izboljšavah že obstoječih produktov. Izvaja se z uporabo širokega spektra metod in predvsem bogatega znanja na različnih področjih mehanike, metalografije, tehnologije polimerov in kemije. Pri tem posegamo po opremi, ki omogoča sledljivost do mednarodnih definicij merskih enot.

Mikroskopi

  • Optični mikroskop
  • Stereomikroskop
  • Vrstični elektronski mikroskop z energijskim spektrometrom (SEM/EDS)

Priprava vzorcev

  • metalografski obrusi
  • kemično jedkanje
  • brušenje

Elementarna analiza

  • Kvalitativna ( ICP - OIS, XRF, ICP - MS)
  • Kvantitativna (ASS, gravimetrija)

Povezane vsebine

Kalibracije

Izvajamo kalibracije za najširši spekter vaših zahtev.
VEČ

Kontrole in overitve

V LOTRIČ Metrology ugotavljamo skladnost širokega obsega zakonskih meril.

Več

Meroslovne rešitve

Naši uporabniki prisegajo na enega od treh načinov sodelovanja.

Več